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本发明公开一种斜入射式共焦布里渊光谱测量系统和方法，解决现有折射率测量系统和方法测量精度低、空间分辨能力低等问题。所述系统，包含：照明模块，用于产生系统入射光；系统入射光经分光平片透射进入参考模块，反射进入光谱激发模块；标准样品经激发产生的...
该专利属于北京无线电计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京无线电计量测试研究所授权不得商用。

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