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为了通过采用普通的非防障理论而不采用用作检验理论电路的特殊理论来实现包括检验电路自身故障检测的防障数据检验，用两个不同的检验码产生装置将检验码加至计算处理结果，而具有检验码的两个计算处理结果被交替输入到与检验码相应的两个检验装置中，从而使被...
该专利属于株式会社日立制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社日立制作所授权不得商用。

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