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本实用新型属于样品测量装置技术领域，尤其为一种分光光度计大样品反射测量支架，包括：标准反射附件，设置在样品室底板的左侧顶端并用于承载放置被测样品；大样品支架，设置于所述样品室底板的右侧顶端并用于承载放置较大的被测样品；其中，所述大样品支架包...
该专利属于天津市拓普仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津市拓普仪器有限公司授权不得商用。

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