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本发明提供精密测定一个像素的平均实际空间长度的方法，还提供测定或调整摄像范围，测定图像畸变及按其结果修正图像畸变的光学系统校正方法，在栅像检查区域的任意区域，计算摄像装置各像素列的栅线数平均值，乘以栅间距得出规定方向上的所述任意区域的实际空...
该专利属于松下电器产业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。

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