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参数校验方法、系统、装置及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:30696194
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本申请公开了一种参数校验方法、系统、装置及计算机可读存储介质,包括:校验规则库,用于存储多种相互独立的校验规则;预加载模块,用于预先加载所述参数校验系统至内存;校验入口选定模块,用于根据预先设定的校验入口信息,从接口服务中确定出需要校验的校...
该专利属于上海微盟企业发展有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海微盟企业发展有限公司授权不得商用。
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