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本发明提供一种在可记录与复制的系统中，侦测一光盘片的瑕疵区块的方法，特别是当资料写录于该光盘片时检测光盘片瑕疵区块的方法。本发明的检测光盘片瑕疵区块的方法包含：比较一ＡＴＩＰ信号与该ＡＴＩＰ信号的载波ＡＴＦＭ信号以得到该两信号之差；若该ＡＴ...
该专利属于宇田控股有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宇田控股有限公司授权不得商用。

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