下载一种用于芯片测试的治具的技术资料

文档序号:30558996

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本实用新型提供一种用于芯片测试的治具,其包括底座、测试针、压固件、第一弹性件以及压盖,其中底座设置有安置槽,用于放置芯片,测试针设置在底座上,一端延伸在安置槽内用于与芯片连接,另一端用于与检测设备连接,压固件转动设置在底座上,用于将芯片压固...
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