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公开通过考虑单元间时序进行的单元感知缺陷特性化。还公开一种确定是否可在用于设计集成电路的标准库单元中检测到缺陷的方法及设备。生成缺陷检测表，其指示是否可使用输入逻辑状态的特定组合且在不同的负载条件下检测到特定缺陷。合并结果以针对输入及输出逻...
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