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缺陷检测系统和方法技术方案
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文档序号:3050793
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本发明提供一种缺陷检测系统和方法,用于可复写光盘。在该系统中,一解调器读取一光盘上多个扇区的内容与内校验码(PI)。一扇区检测器解码所述的这些内校验码PI以获得所述的这些扇区的缺陷信息。一存储器储存由所述的这些扇区的内容所组成的一容错数据区...
该专利属于联发科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联发科技股份有限公司授权不得商用。
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