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本实用新型涉及一种用于光纤与光芯片角度对准的测试结构及耦合系统，本实用新型的测试结构包括衬底，所述衬底上制作有测试用光耦合结构以及光返回结构，所述测试用光耦合结构用于与待对准的光纤耦合，将待对准的光纤输出的光直接或通过波导结构传输至光返回结...
该专利属于武汉华工正源光子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉华工正源光子技术有限公司授权不得商用。

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