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本发明涉及用于芯片的输入参数测试电路，测试电路包含在芯片中，包括多个串联的测试单元，每个测试单元包括：第一端，连接封装管脚或未封装管脚；第二端，连接上一级测试单元的输出；控制模块，用于在初始化阶段，将连接封装管脚的测试单元设置为激活状态，将...
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