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本发明公开了一种导抗谱频率（ＩＳＦ）参数的矢量量化方法和一种ＩＳＦ参数的矢量量化装置。本发明还公开了一种ＩＳＦ参数的矢量量化编码端方法、一种ＩＳＦ参数的矢量量化解码端方法、一种ＩＳＦ参数的矢量量化装置、一种ＩＳＦ参数的矢量量化编码端装置和一...
该专利属于北京工业大学;华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学;华为技术有限公司授权不得商用。

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