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本发明公开了一种光学材料双折射率的测试装置及测试方法，包括双光路模块、正交偏光系统、厚度测量模块、补色器、位相检测模块及与其均直接相连的成像模块和光程差测算模块；双光路模块与正交偏光系统直接相连且位于正交偏光系统后部；厚度测量模块与正交偏光...
该专利属于中国科学院福建物质结构研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院福建物质结构研究所授权不得商用。

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