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基于双振子悬浮光力学系统的力场梯度测量装置及方法制造方法及图纸
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下载基于双振子悬浮光力学系统的力场梯度测量装置及方法的技术资料
文档序号:30413195
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本发明公开一种基于双振子悬浮光力学系统的力场梯度测量装置及方法。测量装置,依次包括激光器、光学腔、第一光镊、第二光镊、光场探测装置,其中光学腔中间分别设有第一纳米微粒和第二纳米微粒;激光器的光轴和光学腔的光轴重合,激光器从光学腔的左侧入射,...
该专利属于浙江大学所有,仅供学习研究参考,未经过浙江大学授权不得商用。
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