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本申请适用于集成电路技术领域，提供了一种检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，方法用于检测晶粒，晶粒用于集成电路的设计中，晶粒为多位元的存储结构，位元对应的存储结构中包括用于重复烧录的目标器件，目标器件为熔丝或反熔丝；对晶粒中位元对应的目...
该专利属于深圳天狼芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳天狼芯半导体有限公司授权不得商用。

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