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本发明公开了一种基于样本分布特征和SPY算法的软件缺陷预测方法；本发明基于软件缺陷数据集的分布特征，提出了边界k值确定公式。根据公式为不同的数据集选择合适的少数类边界样本。此外，本发明将SPY算法和边界采样算法结合，通过边缘样本优化SPY算...
该专利属于杭州电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过杭州电子科技大学授权不得商用。

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