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与小麦杂种坏死基因Ne1和Ne2紧密连锁的InDel标记及其应用制造技术
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下载与小麦杂种坏死基因Ne1和Ne2紧密连锁的InDel标记及其应用的技术资料
文档序号:30159409
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本发明提供了与小麦杂种坏死基因Ne1和Ne2紧密连锁的InDel标记,以更方便、更有效地用于小麦种质Ne等位基因的预测,确保杂交顺利进行。进行。
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该专利属于中国科学院遗传与发育生物学研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院遗传与发育生物学研究所授权不得商用。
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