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本发明涉及一种低温绝缘超导电缆径向分析系统，包括：定向切割设备，用于采用与待检测的低温绝缘超导电缆的走向方向垂直的切割方向截取待检测的低温绝缘超导电缆的一段，所述低温为液氮温区；分布判断设备，用于在接收到的末次处理图像中识别第一参考像素和第...
该专利属于刘国林所有，仅供学习研究参考，未经过刘国林授权不得商用。

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