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本发明涉及人工智能技术领域，具体涉及一种基于图像处理的结构件生产过程缺陷检测方法。该方法通过X射线获得结构件的射线图像，通过射线图像上的缺陷区域构建缺陷分布图。以缺陷分布图上缺陷连通域内像素值最小的像素点作为暗像素点，通过暗像素点的分散程度...
该专利属于金成技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过金成技术有限公司授权不得商用。

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