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本发明公开了一种集成电路输出端测试装置，其结构包括机壳、电源开关、芯片固定机构、芯片按压机构，电源开关基座与机壳螺栓连接，芯片固定机构设于机壳的操作台上方，芯片按压机构底端与机壳机械连接，芯片固定机构由芯片夹台机构、承载夹块、驱动轮、传动电...
该专利属于陈清梅所有，仅供学习研究参考，未经过陈清梅授权不得商用。

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