温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种电力半导体元件散热器热阻测试方法及装置，方法包括：步骤1：在散热器台面和发热装置底端开设对应的凹槽；步骤2：将热敏元件埋设在步骤1中开设的凹槽内，获得热敏元件的埋入深度；步骤3：将发热装置固定安装在散热器台面上，获得接触面积...
该专利属于深圳市安润佳半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市安润佳半导体科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。