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一种用于DGT技术的检测装置，由底座、功能芯片、保护膜和密封盖构成，所述芯片包括由下到上依次设置的扩散相模块和吸附相模块；所述底座包括凹槽、凸块、环形槽和检测窗，所述功能芯片放置在底座环形槽处；所述保护膜覆盖在所述吸附相模块上方；所述密封盖...
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