温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本公开涉及涂胶缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括获取目标图像，上述目标图像包括工件的涂胶区域；基于深度神经网络对上述目标图像进行处理，得到上述涂胶区域的预测位置信息；获取上述涂胶区域的标准位置信息；根据上述预测位置信息和标准...
该专利属于北京市商汤科技开发有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京市商汤科技开发有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。