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本发明公开一种测量离子密度对相对介电常数影响的装置及测量方法，包括主控装置、空心腔体结构、射频收发装置、电气控制装置以及真空控制装置，主控装置分别与真空控制装置以及电气控制装置连接，真空控制装置、射频收发装置、电气控制装置分别与空心腔体结构...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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