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本发明提供一种离面检测陀螺仪，其包括：左框架结构，其位于中心点的左侧，其能够沿Y轴进行谐振运动；右框架结构，其位于中心点的右侧，其能够沿Y轴进行与左框架结构反向的谐振运动；左移动质量块，其位于左框架结构的第一空间内，其通过第一倾斜挠性梁与左...
该专利属于美新半导体(天津)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过美新半导体(天津)有限公司授权不得商用。

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