下载用于测量聚合物成型过程中分子取向的装置及测量方法的技术资料

文档序号:29786315

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本发明属于聚合物分子取向测量相关技术领域,其公开了一种用于测量聚合物成型过程中分子取向的装置及测量方法,装置包括:同轴圆筒探针,包括屏蔽层、绝缘层以及2n个电极,n≥2,2n个电极间隔镶嵌于绝缘层的一圆周面上,圆周面上同一直径上的两电极为一...
该专利属于华中科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过华中科技大学授权不得商用。

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