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本发明涉及辐射检测技术领域。一种辐射成像数据采集设备及使用该设备的辐射成像数据采集方法，所述设备包括探测器装置、主控装置和通用计算机，所述探测器装置包括至少一用于将Ｘ射线转换为电流信号的探测器，至少一用于将所述电流信号进行积分前置放大的开关...
该专利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司;清华大学授权不得商用。

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