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本发明提出了一种生产智能测试方法、装置和系统,该方法包括待测设备上生产线时,获取用于诊断测试的第一数据;待测设备生产完成后,移栽待测设备至老化架位置;获取用于诊断测试的第二数据;老化架上待测设备填满后,搬运老化架至智能老化区,获取老化架老化...该专利属于浪潮电子信息产业股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浪潮电子信息产业股份有限公司授权不得商用。
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