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一种点阵测距机构制造技术
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文档序号:29642406
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本实用新型提出了一种点阵测距机构,包括测距台,测距台上设有若干个通孔;若干通孔上均活动设置有用于测距工件上表面的测距模块;若干通孔和测距模块在测距台上呈阵列分布。通过测距模块阵列分布就可以起到对工件上表面进行多点测距操作的作用,对工件的上表...
该专利属于佛山宇仁智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过佛山宇仁智能科技有限公司授权不得商用。
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