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一种阵列天线总辐射功率的测量方法、装置和系统制造方法及图纸
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下载一种阵列天线总辐射功率的测量方法、装置和系统的技术资料
文档序号:29593801
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本发明实施例公开了一种阵列天线总辐射功率的测量方法、装置和系统,其中,所述方法包括:确定阵列天线在角度空间的瑞利分辨率,根据所述瑞利分辨率设置采样点的步进栅格间距;按照所述步进栅格间距确定采样点,在所述采样点位置测量等效全向辐射功率EIRP...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。
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