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本实用新型公开了一种便于调节的半导体测试用治具，包括底座、限位杆和顶板，所述底座上表面两端均固定安装有限位杆，所述限位杆底部固定连接有顶板，所述底座上表面中部固定开设有一号凹槽，所述一号凹槽内腔通过螺栓可拆卸安装有下模具，所述限位杆中部活动...
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