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本实用新型公开了一种半导体发光二极管芯片光型检测装置，包括底座、支撑座、上固定架和检测机构，所述底座的底端固定连接有支撑座，所述支撑座的顶端固定连接有上固定架，且上固定架的底端中心位置处固定连接有检测机构，所述上固定架的顶端对称开设有两组滑...
该专利属于深圳市未历科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市未历科技有限公司授权不得商用。

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