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本发明提供了一种无干涉五轴扫描轨迹生成方法及系统，涉及五轴扫描测量轨迹生成技术领域，该方法包括：步骤S1：将待扫描测量的三维自由曲面通过中轴线提取算法，提取其表面中轴线作为引导线；步骤S2：根据步骤S1中引导线上不同点的可行区域，计算确定测...
该专利属于上海交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海交通大学授权不得商用。

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