温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明为一种平面样型点之自动比对系统，其比对方法包括：粗配对：提出构成配对时应满足的基本条件；细配对：提出构成配对时其他点构成配对应具备之条件；计算配对机率：依据该配对点及该其他配对点之特征，计算此两配对的旋转角度，并累加其他配对点该配对之...
该专利属于许文星所有，仅供学习研究参考，未经过许文星授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。