下载金属膜上介质周期结构折射率传感器及制备方法的技术资料

文档序号:29485780

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种基于金属膜上介质周期结构折射率传感器,传感元件为纳米光子结构,上至下分别为介质柱阵列,氧化铝保护层贵金属反射层,基底;由圆柱体介质柱构成的介质柱阵列呈中心对称的形状,且紧贴氧化铝表面;通过共振峰位置偏移测量折射率。本发明所制...
该专利属于华南师范大学所有,仅供学习研究参考,未经过华南师范大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。