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本发明涉及用于在成像质谱法中自动聚焦的系统和方法。本发明通过在自动聚焦系统中包含多个孔径(诸如二维布置地多个孔径)而提供对当前IMS和IMG设备和方法的改进。由于从穿过一个或多个孔径的照明辐射测量在样本上的聚焦失败时，在自动聚焦系统中使用多...
该专利属于富鲁达加拿大公司所有，仅供学习研究参考，未经过富鲁达加拿大公司授权不得商用。

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