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本实用新型公开了一种光学胶外观检验撕膜测试一体化装置，包括放置在底板上的光学胶片，所述底板上通过支撑柱固定安装有放置板，且光学胶片放置在放置板上，所述放置板上通过两个滑动机构安装有两个夹持板，且两个夹持板与放置板之间均安装有定位机构，所述底...
该专利属于深圳市鸿裕达半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市鸿裕达半导体有限公司授权不得商用。

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