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本发明实施例提供了一种存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及电子设备技术领域。该方法包括：通过写端口向测试区域中的每个存储单元写入第一测试数据，从起始存储单元开始，通过写端口依次向每个存储单元写入第二测试数据，同时通过读端口对未写入...
该专利属于龙芯中科技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过龙芯中科技术股份有限公司授权不得商用。

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