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本发明公开了一种苹果外观缺陷识别系统及方法，其包括步骤：S1、获取由工业相机采集的原始图像，将原始图像处理为单颗苹果图像；S2、将单颗苹果图像输入到预先完成训练的yolov3‑tiny模型中，得到缺陷区域数据S3、将得到的缺陷区域数据输入到...
该专利属于上海畅选科技合伙企业(有限合伙)所有，仅供学习研究参考，未经过上海畅选科技合伙企业(有限合伙)授权不得商用。

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