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本发明公开了一种基于二值特征模式匹配的解包裹方法。该方法不同于传统的双目匹配系统，仅需一个相机和一个投影仪即可获得被测物体的绝对相位。该方法需要预先获取标准平面的主值相位、主值相位对应的条纹阶次以及经过二值化的特征图像。在对被测物体进行测量...
该专利属于东南大学所有，仅供学习研究参考，未经过东南大学授权不得商用。

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