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本发明公开了一种ADC参数测试中超量程输入与非相干采样下的信号恢复方法，首先利用被测ADC输出信号的频域信息对被测ADC的测量周期、幅度、初始相位和直流分量进行估计，然后对削顶输出信号进行第一次重构并进行削顶处理得到重构的削顶输出信号，在被...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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