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本发明提供了一种优化远红外阻挡杂质带探测器综合带宽的方法及系统，包括：通过数值模拟及数据拟合得到阻挡杂质带探测器综合带宽优值因子随吸收层厚度变化的曲线；根据所述曲线提取出最优综合带宽对应的吸收层厚度，所述吸收层厚度用于制作阻挡杂质带探测器。...该专利属于上海微波技术研究所（中国电子科技集团公司第五十研究所）所有，仅供学习研究参考，未经过上海微波技术研究所（中国电子科技集团公司第五十研究所）授权不得商用。