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JTAG功率降级调试制造技术
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文档序号:2916855
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提供一种在功率降级之后对处理器执行调试操作的方法。在所述处理器的执行模式期间检测所述处理器的闲置状态。确定所述闲置状态与功率降级事件相关联。在所述执行模式期间,通过在所述处理器内加载调试寄存器来恢复所述处理器的调试状态。...
该专利属于高通股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过高通股份有限公司授权不得商用。
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