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本发明涉及磁性材料电磁性能检测技术领域，具体涉及一种降温测量磁性材料居里温度的方法。本发明通过采用加热后待测样品自然降温的过程中获其降温U‑T曲线，同时提供了优选的加热装置保温层设置，并在软件端设置较高频率的实时降温数据采集；相比现有加热方...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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