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本申请案涉及存储器子系统自测操作。一种方法包含通过存储器子系统控制器的组件，请求对与可耦合到所述控制器的存储器装置相关联的数据路径的控制。所述方法可包含：通过所述组件，产生对应于测试所述存储器装置的操作的数据；以及通过所述组件，致使所述数据...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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