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本发明公开了一种IBIS模型中I/V曲线的测量方法，解决了无IBIS模型或模型不准时获取芯片IBIS模型曲线数据的问题。实现包括：利用可调电压源设芯片工作状态；设置数字源表扫描电压获得测试芯片原始I/V曲线数据；数据修正后获得符合IBIS规...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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