温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

为建立清纱系统的清纱极限起见，对纱疵进行测定、分数和计数。在该情况下，与相对于清纱器除杂数（２）设定基准长度（ｘ）和敏感度（ｙ）各参数，并建立清纱轮廓（ＲＰ），该轮廓代表所述设定参数理论上所有可能的组合数量与清纱器干涉数之间的函数关系，同时...
该专利属于泽韦格路瓦有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泽韦格路瓦有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。