温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及半导体芯片的测试技术领域，具体为一种半导体测试用芯片高效更换插接装置，包括插接机构、第一伺服电机、第二电机和鼓风机，所述第一外壳内部的顶端开设有第一传动仓，所述推块的内部皆设置有三组缓冲机构，所述装夹块的内部设置有吹尘机构，所述吹...
该专利属于吴强所有，仅供学习研究参考，未经过吴强授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。