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本发明公开了一种提高薄膜态材料非线性光学系数测量精度的方法，通过选用厚度超薄、非线性光学系数超低的材料作为薄膜元件的基底，并应用双臂Z扫描技术同时测量包含基底的薄膜器件和裸基底的非线性信号，由于基底的非线性响应很小甚至可以忽略，薄膜态材料的...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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