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本发明公开了一种机载电子设备剩余寿命自适应预测方法，涉及电子设备寿命预测技术领域。针对现有新研、小样本条件下机载电子设备剩余寿命预测方法未能综合考虑非线性、测量误差、隐含退化特性以及漂移/扩散系数同步更新的问题，本发明的方法首先基于Wien...
该专利属于中国人民解放军空军工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军空军工程大学授权不得商用。

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